光學(xué)相關(guān)數(shù)據(jù)整合
隨著LED應(yīng)用環(huán)境的多元復(fù)雜化,LED下游商對上游晶粒品質(zhì)的要求日趨嚴(yán)苛,如LED耐靜電測試(Electrostatic Discharge,ESD)的電壓值就從原本4kV要求,逐漸提高到8kV,以容忍戶外的惡劣環(huán)境。所以高壓LED耐靜電測試為目前LED晶粒點(diǎn)測機(jī)中,急待開發(fā)的關(guān)鍵模組。